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      當前位置:首頁產品中心益和儀器元件測試儀器6630-1/3/5/10/20/30益和MICROTEST6630精密型LCR測試儀

      益和MICROTEST6630精密型LCR測試儀

      產品簡介

      益和MICROTEST6630精密型LCR測試儀
      6630 精密型 LCR 測試儀,提供 6 種頻率選項(10 Hz 至1/3/5/10/20/30 MHz),可以進行交流信號的LCR測試,測試頻率和測試級別可進行連續變化的階段測量。可在不同測試、模式條件下、進行高速地連續測試。提供輸出阻抗25?/100?可切換,ALC補償,多步測試;BIN 分類及比較器功能在自動元件生產時進行良品與不良品分類

      產品型號:6630-1/3/5/10/20/30
      更新時間:2024-11-30
      廠商性質:代理商
      訪問量:1169
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      品牌中國臺灣益和產地類別國產
      應用領域電子

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      益和MICROTEST6630精密型LCR測試儀

      6630 精密型 LCR 測試儀,提供 6 種頻率選項(10 Hz 至1/3/5/10/20/30 MHz),可以進行交流信號的LCR測試,測試頻率和測試級別可進行連續變化的階段測量。可在不同測試、模式條件下、進行高速地連續測試。提供輸出阻抗25?/100?可切換,ALC補償,多步測試;BIN 分類及比較器功能在自動元件生產時進行良品與不良品分類。並支援RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device 介面。

      6630 LCR 測試儀可搭配各式各樣的測試治具與配件。介電常數測試治具 FX-0000C7,儀器內建公式直接算出材料介電數值 εr'、εr"。評估 PCB 空板或陶瓷板等。使用液態介電治具 FX-000C20,用來評估電化學材料特性分析。使用導磁係數測試治具 FX-0000C8,儀器內建公式直接算各種環形磁芯或鐵氧體磁芯及電磁屏蔽塗層材料的導磁系數 μr'、μr"。

      • 信號源頻率範圍:DC, 10Hz-1/3/5/10/20/30MHz
      • 基本阻抗量測精度 ±0.05%
      • 自動電平控制 (ALC) 功能
      • 輸出阻抗 25Ω/100Ω 可切換
      • 提供電錶模式、多步測試並搭配多樣治具,如:液態介電、介電常數治具和導磁係數量測
      • 超快量測速度 < 3mS ( 蕞快 )
      • 開路 / 短路 / 負載校正功能
      • 電錶模式下多可顯示四個元件參數 , 電感值及 DCR 值可同時顯示
      • 可同時量測和顯示自動元件分類:比較器功能及 Handler 接口BIN 分類功能
      • 支援 RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device 等介面
      • 適用於研發、製程、實驗室等檢測領域
      • 可加購電腦連線軟體,全面採集分析量測數據
         
       
      四顯參數  
      800*400 7 吋彩色螢幕,可以同時設定即顯示四種不同的參數。
       校正
      量測待測物之前,需要先做開路、短路、高頻負載校正、及定頻負載校正。
         
        

      DCR 量測電感

      用於電感元件特性的量測,量測直流的電阻特性。一般用來評估電感的參數值為 Ls/Lp/Q/SRF/DCR。電感匝數與繞線材料會影響DCR 值。

       

      多步測試

      多步列表測試自動編成功能,多 15 組 ( 可存 50 個編程 )。

       

         

       

      輸出阻抗 25?/100? 和自動電平控制 (ALC)

      輸出阻抗 25?/100? 可以切換。自動電平控制 (ALC) 為工程師更精確量測元件。如積層陶瓷電容(MLCC),電容值>1uF,需打開ALC 量測, 因為電容值在量測時有可能會低於真實的電容量。一般評估電容的參數值有 Cs/Cp/D/Q/ESR/DC Bias Voltage。

       

      介電治具
       

      使用介電常數測試治具 FX-0000C7,6630 內建公式直接算出材料介電數值 εr'、εr"。評估 PCB 空板或陶瓷板等。

       

       

       

         
        

      液態介電

      使用液態介電治具 FX-000C20,用來評估電化學材料特性分析。

       

       

      導磁係數

      使用導磁係數測試治具 FX-0000C8,6630 內建公式直接算各種環形磁芯或鐵氧體磁芯及電磁屏蔽塗層材料的導磁系數 μr'、μr"。

         
        

      自動化生產線

      連接 RS-232、LAN、GPIB 或 Handler 搭載自動化高速量測 (測試速度<3mS),生產蕞有效率。

        

       

       

      益和MICROTEST6630精密型LCR測試儀

      規格

        

       

       

       測試頻率

      6630-110Hz ~ 1MHz
      6630-310Hz ~ 3MHz
      6630-510Hz ~ 5MHz
      6630-1010Hz ~ 10MHz
      6630-2010Hz ~ 20MHz
      6630-3010Hz ~ 30MHz
      小分辨率100mHz, 6位元頻率輸入
      準確度

      7 ppm±100mHz

      基本測量準確度± 0.05%

       

       

       

      AC 測試信號為準

       

      測試信號電壓範圍 10mV - 2Vrms
      電壓小分辨率1mV
      準確度ALC ON:6% 設定電壓 ±2mV
      ALC OFF
      :10% 設定電壓 ±2mV
      測試信號電流範圍200µA - 20mArms
      電流小分辨率10µA
      準確度ALC ON:6% 設定電流 ± 20µA
      ALC OFF
      :10% 設定電流 ± 20µA
      DC 測試信號為準1V(固定)
      測量時間 (蕞快)< 3ms
      輸出阻抗可切換25Ω、100Ω (標稱值)
      測試參數|Z|(阻抗)|Y|(導納)、θ(相位角)X(電抗)R(串並聯電阻)G(電導)B(電納)L(電感)D(損耗因數)Q(品質因數)DCR(直流電阻C(電容)、 Vdc-Idc(直流電壓電流)ESR(等效串聯電阻)、ε (相對介電係數)、μr (相對導磁係數)
      測量模式電錶模式、多步列表
      等效電路串聯、並聯
      校正開路、短路、負載
      多步列表測試50組多步測試設定(每組15個測試步驟)
      BIN分類9級(大)
      比較器ABS、ΔABS、Δ%、OFF
      內部儲存100組LCR Meter測試設定文件 、50組多步測試設定
      USB Host 儲存LCR Meter測試設定文件、多步測試設定文件、BMP圖像
      介面RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device

      電源要求

      電壓90V  264Vac
      頻率47Hz ~ 63Hz
      功耗低功耗:大30W (標稱值)
      液晶螢幕7吋TFT, 彩色顯示(800*480)
      操作環境溫度: 10℃ ~ 40, 濕度: 80%RH
      外觀尺寸(W*H*D)336x147x340 mm
      重量3 kg

      參數量測範圍

        
      |Z|0.000 mΩ - 9999.99 MΩ
      R, X± 0.000 mΩ - 9999.99 MΩ
      |Y|0.00000 uS - 999.999 kS
      G, B± 0.00000 uS - 999.999 kS
      θRAD± 0.00000 - 3.14159
      θDEG± 0.000° - 180.000°
      Cs, Cp± 0.00000 pF - 9999.99 F
      Ls, Lp± 0.00 nH - 9999.99 kH
      D0.00000 - 9999.99
      Q0.00 - 9999.99
      Δ± 0.00% - 9999.99%
      Rdc0.00 mΩ - 99.9999 MΩ
      εr' εr''0 - 100000
      μr' μr'"0 - 100000

      應用範圍

        
      被動元件電容、電感、電阻、變壓器、陶瓷諧振器、石英晶體
      半導體元件

      變容二極體之 cv 特性分析、二極體

      介電質材料塑膠、陶瓷、印刷電路板的電容率和損耗正切評估導
      其他元件

      電路板上的元件阻抗評估

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